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德国Hellma CaF₂氟化钙晶体:半导体深紫外光刻核心光学材料

更新时间:2026-03-19      浏览次数:16

一、产品背景与行业定位

在半导体制程迭代进程中,深紫外(DUV/VUV)光刻是决定芯片线宽精度的核心工艺,光学材料的纯度、透射性能、结构稳定性直接影响光刻良率与设备寿命。德国Hellma Materials作为光学晶体制造商,承袭原Schott Lithotec光刻级晶体技术,深耕CaF₂单晶生长与精密加工领域数十年,其生产的氟化钙(CaF₂)单晶凭借超宽光谱透射、极低色散、高激光损伤阈值等优势,成为半导体157nm、193nm、248nm准分子激光光刻系统的标配光学材料,广泛应用于芯片制造、光束传输、精密检测等场景。

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二、核心光学性能与波长适配优势

2.1 超宽光谱覆盖,专项优化光刻波长

Hellma CaF₂单晶拥有130nm(真空紫外)至9μm(红外)的超宽透射区间,针对半导体主流光刻波长做了深度提纯与工艺优化,10mm厚度样品在核心光刻波段的透射率远超行业标准,可降低光能量损耗,保障光刻光束传输效率。

248nm(KrF准分子激光)适配成熟制程光刻,内部透射率>99.8%,光学稳定性强,长期使用无明显衰减;193nm(ArF准分子激光)支撑45nm以下制程,内部透射率>99.7%,激光损伤阈值可达7J/cm²,耐受高功率脉冲激光;157nm(F₂准分子激光)面向光刻与前沿科研,内部透射率>99.4%。

2.2 理化性能,适配高精度光刻工况

改款氟化钙晶体折射率均匀性优异,光刻级产品可达0.5~15ppm@633nm,可避免成像畸变,保障光刻线条精度;应力双折射控制在1~20nm/cm@633nm,减少偏振光损耗,提升光束传输稳定性;阿贝数高达95.23,色散极低,色差校正能力优异,适配高精度投影与照明光学系统。

同时,晶体理化稳定性突出,熔点达1418℃,化学惰性强,耐紫外辐照老化,无惧半导体制程中的严苛环境,长期使用性能保持稳定,有效延长光学元件使用寿命。

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三、全维度定制能力与规格参数

3.1 灵活定制方案,贴合半导体需求

针对半导体设备的差异化装配需求,Hellma CaF₂支持定制服务,无需局限于标准规格。尺寸方面,单晶直径φ250mm,多晶可达φ440mm,厚度250mm,可加工圆盘、棱镜、透镜、窗口片等多种形态;晶向支持<100>、<111>等主流方向定制,匹配不同光学设计逻辑;

3.2 波长与品级选型指南

结合半导体不同制程与应用场景,可按照以下细分场景精准匹配波长与品级,兼顾使用性能与成本控制:

3.2.1 光刻选型

针对14nm及以下制程光刻场景,推荐选用193nm/157nm波长,搭配光刻级(Litho Grade)品级,核心优势为超高折射率均匀性、极低应力双折射、高激光损伤阈值,高精度光刻的严苛成像要求。

3.2.2 成熟制程光刻选型

针对45nm以上成熟制程光刻场景,推荐选用248nm波长,搭配激光级/UV级品级,具备高透射率、性价比优异、长期运行稳定性强的特点,适配常规芯片制造的批量生产需求。

3.2.3 红外光学与制程传感选型

针对红外光学/半导体制程传感场景,选用IR波段(0.78~9μm),搭配IR级品级,红外波段无特征吸收、抗干扰性强,适配制程辅助检测与红外光学系统的使用需求。

四、半导体领域核心应用场景

Hellma CaF₂氟化钙晶体是半导体产业链的关键光学材料,核心应用于光刻投影与照明光学系统,作为光刻机核心透镜、棱镜材料,实现深紫外光束的精准聚焦与成像,直接决定芯片线宽精度;同时用作激光腔体窗口、光束传输元件,承受高功率脉冲激光,保障激光输出稳定性。



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